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Near Field Probe set  SRF5030T 

  

 

세트에는 휴대용 케이스에 케이블과 어댑터가 있는 4개의 H-Field 근거리 프로브가 포함되어 있습니다.

EMI/RFI 문제, 누출 문제 해결에 사용됩니다. 

Siglent SSA3000X 스펙트럼 분석기 제품군을 사용하여 EMI 테스트 및 문제 해결에 사용할 수 있습니다.

 

 

Product Overview

근거리 프로브 유형 SRF5030 세트에는 인쇄 회로 기판의 사전 준수 테스트를 위한 자기장 프로브가 포함되어 있습니다.

모듈 영역의 자기장 측정, 공급 시스템의 트랙, 구성 요소 및 모듈은 교란 배출을 줄이기 위한 선택적 조치의 기초가 됩니다. 

패시브 근거리 프로브는 스펙트럼 분석기 또는 오실로스코프의 50옴 입력에 연결되어 있으며

30MHz에서 최대 Ro 3GHz까지의 주파수 범위에서 자기장과 교란 전류를 비교 측정할 수 있습니다.

  

Specifications 

	SRF5030-1	SRF5030-2	SRF5030-3	SRF5030-4
Frequency Range	30MHz to 3 GHz	30MHz to 3 GHz	30MHz to 3 GHz	30MHz to 3 GHz
Resolution	25mm	10mm	5mm	2mm
Application	It can be used at a distance of up to 10 cm from the units. The probe detects the spatial distribution of HF magnetic fields in devices and assemblies and allows the user to draw conclusions with regard to disturbance emissions.	It is suitable for measurements up to 3 cm. Interference sources can be localized by detecting the distribution and orientation of the field, therefore enabling a more exact use of higher resolution probes.	It is suitable for measurements up to 3 cm. Interference sources can be localized by detecting the distribution and orientation of the field, therefore enabling a more exact use of higher resolution probes.	It is designed for the detection of magnetic fields which are emitted vertically from the surface of PCBs and is thus ideal for investigating current loops. The probe allows the measurement in confined board areas (between large controller components, for example - resolution approx. 2 mm).

Additional Information

 

※ 자세한 사항은 'DataSheet'나 'Quick Start Guide'를 참조해 주세요.